1.簡介
對于有效的電化學(xué)阻抗譜(ElS)測量,所研究的系統(tǒng)應(yīng)該是線性的、穩(wěn)定的、因果的和平穩(wěn)的[1, 2]。在本文中,術(shù)語“平穩(wěn)性”包括穩(wěn)態(tài)和時間不變性。
穩(wěn)態(tài)是系統(tǒng)在瞬態(tài)之后的狀態(tài)。例如,一個R/C電路在一個電位或電流階躍下處于瞬態(tài)狀態(tài),直到經(jīng)過一定的時間后,它的響應(yīng)才會改變。
時變性是指定義其傳遞函數(shù)的參數(shù)隨時間變化的系統(tǒng)。例如,極化電阻隨時間變化的腐蝕電極,無論是由于腐蝕還是鈍化,都是一個時變系統(tǒng)。
這兩個屬性可能很難區(qū)分。
ElS在腐蝕中最經(jīng)典的用途是使用Stern或Wagner-Traud關(guān)系確定極化電阻Rp[3-7]。腐蝕系統(tǒng)是一種非穩(wěn)態(tài)系統(tǒng),特別是在第一次浸泡后。參數(shù)的變化會極大地影響阻抗數(shù)據(jù),尤其是在較低的頻率下[8]。
在本文中,我們將介紹在EC-Lab中的各種工具,以幫助檢查和校正測量的時間方差。這些工具將用于在腐蝕的軟鋼電極上進行的測量。下一篇文章中會介紹這些工具用在放電電池的測量[9]。
2.實驗條件
使用涂層電解池對低碳鋼樣品(未公開的成分)進行電位控制EIS測量(PEIS)(圖1),采用碳棒電極、Ag/AgCl參比電極和0.1 M H2SO4溶液(EL-COAT)。
使用Biologic SP-200電化學(xué)工作站、EC-Lab軟件和圖2中所示的參數(shù)進行了連續(xù)六次EIS測量。
3.結(jié)果
結(jié)果如圖3所示。請注意,頻率掃描是從高值到低值進行的。從圖中可以看出,在浸沒之后(圖3a中的Graph 1),瞬時極化電阻似乎先增大,然后迅速減小,因此在較低的頻率下出現(xiàn)了環(huán)路(圖3b)。
接下來的五個阻抗圖顯示了低頻值的“折疊”,這似乎是瞬時極化電阻減小的特征。應(yīng)注意的是,測量數(shù)據(jù)在較低頻率下顯示出感應(yīng)行為,其值具有正虛部。
考慮到電解液的pH值,我們可以假設(shè)金屬腐蝕是由Volmer-Heyrovsky機制驅(qū)動的:這是一種常見的兩步析氫機制,包括吸附步驟和二氫釋放步驟。據(jù)計算,這種反應(yīng)的阻抗在較低的頻率下表現(xiàn)為一個感應(yīng)回路[10]。結(jié)果表明,這些實驗數(shù)據(jù)與極化電阻隨時間增大或減小的模擬阻抗數(shù)據(jù)非常吻合。更多細節(jié)可以在文獻中了解[11, 12]。
哪些數(shù)據(jù)可以可靠地解釋并被認為是有效的?如何確保數(shù)據(jù)解釋沒有錯誤,例如,時間方差效應(yīng)沒有被解釋為感應(yīng)回路?在本文的下一部分中,我們將介紹EC-Lab中可以幫助解決此類問題的工具。
4.如何采用EC-Lab檢查和校正時間方差
4.1 采用電流控制執(zhí)行EIS
阻抗譜可以通過控制電位來實現(xiàn),這意味著輸入信號是圍繞直流電位的電位調(diào)制,系統(tǒng)的響應(yīng)是圍繞直流電流的電流調(diào)制。在這種情況下,傳遞函數(shù)不是系統(tǒng)的阻抗,而是系統(tǒng)的導(dǎo)納。
然而,輸入調(diào)制也可以是圍繞DC電流的AC電流調(diào)制,在這種情況下,響應(yīng)是圍繞DC電位的AC電位調(diào)制。在這種情況下,傳遞函數(shù)就是EC-Lab中系統(tǒng)的阻抗,這種技術(shù)稱為GEIS。
圖3a所示的阻抗圖是用電位控制EIS(PEIS)得到的。圖4顯示了在這個實驗中直流電流的變化,對于這個實驗,電位調(diào)制是在PEIS開始之前測量的開路電位(OCP)周圍施加的。
從圖4可以看出,在整個實驗過程中,電位保持在一個恒定的水平,但直流電流迅速從零開始移動,這意味著隨著時間的推移,樣品由于其自由腐蝕電位(或OCP)的演變而呈陽極極化。
這一現(xiàn)象如圖5a所示,如果腐蝕樣品的穩(wěn)態(tài)特性向更多的陰極電位移動,則初始OCP變?yōu)殛枠O電位。電位控制(PC)阻抗測量不是在初始OCP附近進行,而是在穩(wěn)態(tài)曲線陽極部分的特定工作點附近進行。
相反,如圖5b所示,如果使用電流控制和零電流附近(相當(dāng)于OCP)進行阻抗測量,即使穩(wěn)態(tài)曲線發(fā)生變化并向陰極電位移動,仍在穩(wěn)態(tài)曲線上的同一點附近進行調(diào)制。
同樣重要的是要注意,GEIS的主要缺點是輸入振幅的選擇。雖然很容易選擇一個電位振幅(通常幾十毫伏是很好的開始值),選擇一個電流輸入振幅是不直觀的。在EC-Lab中,可以如圖6所示采用GEIS和電位振幅。
4.2 非穩(wěn)態(tài)失真(NSD)指示器
在本文中,正如引言中所解釋的,我們所說的非平穩(wěn)性是雙重的:
(1)系統(tǒng)處于瞬態(tài)狀態(tài),尚未達到穩(wěn)態(tài)。其傳遞函數(shù)在整個實驗過程中保持不變,但其穩(wěn)態(tài)響應(yīng)不是瞬時達到的,而是滯后的。
(2)系統(tǒng)的傳遞函數(shù)或構(gòu)成其傳遞函數(shù)的參數(shù)值隨時間變化。這就是我們在整個文章中所說的時間方差。
這兩種現(xiàn)象對響應(yīng)信號都有特定的影響,這可以在阻抗圖上看到,但對其傅里葉變換(FT)也有影響,后者給出了信號的頻率描述。
平穩(wěn)(線性)系統(tǒng)的時間響應(yīng)信號的FT將顯示一條與輸入信號頻率相同的線。非平穩(wěn)系統(tǒng)的響應(yīng),無論是處于瞬態(tài)還是時變狀態(tài),都會顯示出不僅與輸入信號處于同一頻率而且處于相鄰頻率的線。
在基頻處信號響應(yīng)周圍相鄰線的振幅取決于系統(tǒng)的非平穩(wěn)程度。
我們可以引入一個指標來量化信號的非平穩(wěn)性,無論是由于敏感狀態(tài)還是時間變化。我們稱之為NSD。計算如下:
所有這些都在相應(yīng)的BioLogic白皮書[14]中有更詳細的說明和解釋。
還請注意,圖6所示的“漂移校正”工具可用于解釋和校正系統(tǒng)的非平穩(wěn)性[15]。
圖7a顯示了圖3所示阻抗測量(此處在圖7b中)的NSD。
NSD取決于頻率。如果測量速度足夠快,則不受非平穩(wěn)性的影響,特別是不受系統(tǒng)時間方差的影響。
低至2.5%的NSD值可對阻抗圖的形狀產(chǎn)生顯著影響,如圖7所示。
NSD用于確定可用數(shù)據(jù)的較低頻率限制,即可被視為準瞬時或準平穩(wěn)的數(shù)據(jù)。在圖7中,該限值固定在1 Hz,我們認為在該頻率以下,阻抗測量值受非平穩(wěn)現(xiàn)象的影響。
在這一部分我們已經(jīng)看到,NSD指標可以用來指示系統(tǒng)的非平穩(wěn)性,這會導(dǎo)致阻抗數(shù)據(jù)的強烈變形和不正確的解釋。
在本文的下一部分中,我們將解釋4D阻抗方法,該方法用于校正時間方差對阻抗數(shù)據(jù)的影響,從而得出可被視為有效或準平穩(wěn)且正確解釋的數(shù)據(jù)。利用EC-Lab的Z Inst分析工具對實驗結(jié)果進行了分析和顯示。
4.3 4D阻抗采用EC-Lab的Z Inst分析工具
Stoynov在他的開創(chuàng)性論文[16]中首次介紹了這種方法。
首先,需要將獲得的阻抗數(shù)據(jù)表示為時間的函數(shù),如圖8a所示(對于圖4a的結(jié)果)。
其次,在相同頻率但不同時間獲得的所有數(shù)據(jù)點被插值,以產(chǎn)生我們可以稱之為時間阻抗包絡(luò)的數(shù)據(jù)點。對于每個頻率,Re(Z)和-im(Z)表示為時間的函數(shù)。
第三,考慮瞬時阻抗是時域阻抗包絡(luò)的一個截面,計算瞬時阻抗。每個橫截面之間的時間間隔t為:
其中,t2是最后一個阻抗圖的第一個數(shù)據(jù)點的時間,t1是第一個阻抗圖的最后一個數(shù)據(jù)點的時間,n是所選截面的數(shù)量,在圖8b中。
這些時間方差修正后的數(shù)據(jù)現(xiàn)在可以被認為是有效的或準平穩(wěn)的,并且可以用等效電路模型來解釋。
5.結(jié)論
在本文中,我們展示了系統(tǒng)時間變化對阻抗測量的影響,并介紹了EC-Lab中可用于檢測和校正這些影響的工具。在硫酸中低碳鋼樣品的實驗數(shù)據(jù)表明,極化電阻的變化對數(shù)據(jù)有很大的影響,尤其是在較低的頻率下。我們提出了幾種方法來檢查阻抗測量是在一個固定的系統(tǒng)上進行的:
(1)進行連續(xù)測量。如果圖是相同的,那么系統(tǒng)是靜止的。
(2)使用NSD指示器。在非平穩(wěn)系統(tǒng)的情況下,該指示器可用于確定較低的頻率限值,高于該限值的數(shù)據(jù)可視為有效。在腐蝕中也建議使用電流控制的EIS,以便考慮腐蝕電位的變化。
最后,詳細介紹了4D阻抗法及其在EC-Lab中的實現(xiàn),Z Inst分析工具,并用腐蝕數(shù)據(jù)進行了驗證,這似乎是唯一一種能有效消除時間變化影響的方法。表1總結(jié)了可用于檢查和糾正ElS測量中非平穩(wěn)性的工具。
參考文獻
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