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K-K轉(zhuǎn)換的兩點問題
  • 發(fā)布時間 : 2020-07-29 13:36:20
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  1、簡介
  利用Kramers-Kronig(K-K)轉(zhuǎn)換,在已知f→0和f→∞的虛部隨頻率的變化時,可以計算出一個因果的、穩(wěn)定的、線性的、定時的、有限的系統(tǒng)的傳遞函數(shù)的實部?;蛘撸攤鬟f函數(shù)實部的變化已知時,可以計算傳遞函數(shù)的虛部[1-4]。
  測量電極反應(yīng)的阻抗時,可以使用實部的實驗值計算虛部,或者使用虛部的實驗值計算實部。將計算阻抗ZKK與實驗阻抗Z進行比較,是檢驗K-K變換適用條件下阻抗測量有效性的有用工具。

  例如,Bio-Logic測試盒Test-box 3的CV曲線如圖1所示,采用PEIS技術(shù)測試的Nyquist阻抗圖如圖2所示。Test-box 3主要由兩個晶體管組成。它是金屬鈍化的模型[5-6]。圖2所示的Nyquist阻抗圖由兩個在頻率上分離開的電容弧組成。使用K-K轉(zhuǎn)換計算的阻抗ZKK如圖2所示。所有頻率下Z和ZKK圖都是相似的,因此阻抗測量是在因果的、穩(wěn)定的、線性的、定時的系統(tǒng)下進行的。



圖1: Test-box 3的I vs. EWE穩(wěn)態(tài)曲線

圖2: Test-box 3 在圖1中a點對應(yīng)的PEIS測得的Nyquist圖(EWE = -0.35 V, Va = 10 mV, fmin = 0.2 Hz, fmax = 50 kHz(藍線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)


  圖3所示的Nyquist阻抗圖是使用電位EWE的正弦調(diào)制的電勢幅度(Va=375mV)的大值來測量的,即對于非線性條件。此圖仍然由兩個電容弧組成,低頻弧小于圖2中對應(yīng)弧。

  使用K-K轉(zhuǎn)換計算的阻抗ZKK如圖3所示。這兩個阻抗圖不同,表明阻抗測量是在非線性條件下進行的。



圖3: Test-box 3,PEIS測得的Nyquist圖(EWE = -0.35 V, Va = 375 mV, fmin = 0.2 Hz, fmax = 50 kHz(藍線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)


  1.我們能用截斷阻抗做什么?

  我們假設(shè),由于某種原因,Nyquist圖是在有限的頻率范圍內(nèi)測量的(圖4)。



  圖4: 有限范圍頻率值下的截斷阻抗圖(EWE = -0.35 V, Va = 10 mV, fmin = 10 Hz, fmax = 50 kHz(藍線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)


  顯然Z和ZKK阻抗圖存在很大的差異。我們?nèi)绾螜z查圖4所示的實驗阻抗圖的有效性?使用ZFit[6]和測量模型(即Voigt電路R1+C2/R2+C3/R3)可以檢查此有效性。由于測量模型與K-K關(guān)系一致,因此允許用戶在不使用K-K關(guān)系的情況下檢查實驗數(shù)據(jù)的一致性[7]。

  圖5所示的理論阻抗顯示了截斷實驗阻抗圖的有效性。




  圖5: 有限范圍頻率值下的截斷阻抗圖(藍線)、Voigt電路R1+C2/R2+C3/R3的ZFit窗口和理論阻抗圖(紅線)。
  

1.在恒電流控制(GC)下,我們能對不穩(wěn)定的系統(tǒng)做些什么?
  3.1 Test box 3電路3

  圖6是采用PEIS技術(shù)測試Bio-Logic測試盒Test-box 3 在圖1中b點(即在電位控制(PC)下)的Nyquist阻抗圖。圖6所示的Nyquist阻抗圖仍然由兩個電容弧組成,根據(jù)鐘形穩(wěn)態(tài)曲線,兩個電容弧在頻率上分離開,低頻時阻抗的實部為負值。



  圖6: Test-box 3,PEIS在圖1的b點測得的Nyquist圖(EWE = 1.35 V, Va = 10 mV, fmin = 1 Hz, fmax = 100 kHz(藍線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)


  K-K轉(zhuǎn)換的結(jié)果(圖6)顯示了低頻域中的巨大差異。文獻[8-9]已證明無法直接驗證“不穩(wěn)定”電化學(xué)系統(tǒng)阻抗圖測量的有效性,例如,在穩(wěn)態(tài)電流密度與電極電位曲線呈負斜率的情況下。事實上,K-K轉(zhuǎn)換并沒有真正失敗。圖1所示的鐘形穩(wěn)態(tài)電流-電位曲線在恒電流控制(GC)下不能完全畫出,而在恒電位控制(PC)下可以畫出。Gabrielli等人[9]已經(jīng)證明,在這種情況下,可以計算導(dǎo)納,然后使用K-K轉(zhuǎn)換驗證導(dǎo)納的有效性。
  這是由于電化學(xué)工作者習(xí)慣于在GC下工作,用阻抗圖代替導(dǎo)納圖造成的。在GC下,系統(tǒng)的傳遞函數(shù)H(s)不是阻抗而是導(dǎo)納。實際上,傳遞函數(shù)如圖7所示:
  H(s)=L[output(t)]/L[input(t)]
  其中s是Laplace變量,L表示Laplace轉(zhuǎn)換。在GC條件下,電化學(xué)系統(tǒng)的傳遞函數(shù)為:
  H(s)=L[ΔI(t)]/L[ΔE(t)]=1/Z(s)=Y(s)



  圖7: 恒電位控制下標量線性系統(tǒng)的研究簡圖



  因此,應(yīng)使用導(dǎo)納數(shù)據(jù)而不是阻抗數(shù)據(jù)來檢查圖6所示的實驗阻抗圖的一致性。圖8示出了Y和YKK導(dǎo)納圖之間的良好一致性以及測量阻抗的一致性。


  圖8: Test-box 3,PEIS測得的Nyquist圖(EWE = 1.35 V, Va = 10 mV, fmin = 1 Hz, fmax = 100 kHz(藍線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)


  因此,可以將YKK導(dǎo)納圖轉(zhuǎn)換為ZKK阻抗圖,如圖9所示。


  圖9: 由圖8所示的導(dǎo)納圖反演得到Z(藍色標記)和ZKK(紅色曲線)阻抗圖


  3.2 酸性介質(zhì)中的鎳電極
  使用PEIS技術(shù)在H2SO4介質(zhì)中獲得的鎳電極阻抗圖如圖10所示[10-11]。這些圖是在電流控制下,在電極-電解液界面不穩(wěn)定范圍內(nèi),得到的鎳在PC下的陽極溶解-鈍化圖。阻抗圖由兩部分組成,高頻區(qū)為近半圓,低頻區(qū)為近圓弧。顯然,Z圖和ZKK圖差別很大,實驗阻抗Z不服從K-K關(guān)系。



  圖10: 使用PEIS技術(shù)在H2SO4介質(zhì)中獲得的鎳電極Nyquist圖(EWE = 0.9 V, Va = 12.5 mV, fmin = 50 mHz, fmax = 10 kHz(藍線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)


  圖11顯示了Y導(dǎo)納圖和YKK導(dǎo)納圖之間的良好一致性,以及鎳電極在酸性介質(zhì)中測量阻抗的一致性。導(dǎo)納圖之間的偏移是由于f→∞的阻抗實部的測量誤差引起的。


  圖11: 使用PEIS技術(shù)在H2SO4介質(zhì)中獲得的鎳電極Nyquist圖(EWE = 0.9 V, Va = 12.5 mV, fmin = 50 mHz, fmax = 10 kHz(藍線))以及K-K轉(zhuǎn)換獲得的Nyquist圖(紅線)


  參考文獻
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  [4]A. Sadkowski, M. Dolata, J.-P. Diard, J. Electrochem. Soc., 151 (1) E20-E31.
  [5]Bio-Logic Application Note #9 (http://www.bio- logic.info)
  [6]Bio-Logic Application Note #14 (http://www.bio- logic.info)
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  [9]C. Gabrielli, M. Keddam, H. Takenouti, Proc. 5th Electrochemical Impedance Forum, Montrouge (1991).
  [10]I. Epelboin, M. Keddam, M.-C. Petit, Electrochim. Acta, 17 (1972) 177.
  [11]F. Berthier, J.-P. Diard, B. Le Gorrec, C. Montella, J. Electroanal. Chem., 572 (2004) 267.

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