我們知道歐姆降會對電化學(xué)測試結(jié)果造成較大的影響，有沒有辦法將其影響消除呢？Bio-Logic電化學(xué)工作站可以使用EC-Lab軟件中Ohmic Drop Determination測試合集中找到測定歐姆降的方法并對此做出補(bǔ)償。

         在Insert Techniques窗口中可以看到Ohmic Drop Determination中的3種測試方法：

歐姆降測定的方法分別有MIR,ZIR及CI三種。

MIR為手動設(shè)置歐姆降數(shù)值進(jìn)行補(bǔ)償，此方法適合已知?dú)W姆降數(shù)值時進(jìn)行手動設(shè)置。

但實際測試過程中，歐姆降通常是未知的，那么我們可以用ZIR或CI進(jìn)行歐姆降測定。ZIR即使用PEIS交流阻抗技術(shù)測定歐姆降，ZIR通過PEIS技術(shù)測出體系在高頻時的交流阻抗實部得到歐姆降數(shù)值：

ZIR適合擁有EIS交流阻抗模塊的測試通道。

CI為電流擾動法測定歐姆降。通過對體系施加一個電流脈沖，捕獲上升沿/下降沿的電壓降以計算出歐姆降。此方法適合無EIS交流阻抗模塊的測試通道。

Bio-Logic VMP-300系列儀器支持選擇通過軟件或硬件模式進(jìn)行補(bǔ)償，通常保持默認(rèn)通過軟件模式補(bǔ)償即可。

如需對循環(huán)伏安CV測試方法進(jìn)行歐姆降補(bǔ)償?shù)脑?，只需在測試編程窗口中將ZIR或CI置于CV之前，ZIR或CI便會自動測定歐姆降，并在下一個測試CV中進(jìn)行歐姆降補(bǔ)償。