M370掃描電化學(xué)工作站在掃描探針電化學(xué)領(lǐng)域中是一個(gè)全新的概念，以超高分辨率，非接觸式，空間分析電化學(xué)測(cè)量的特點(diǎn)而設(shè)計(jì)。

M370是一個(gè)模塊化的系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)當(dāng)今所有微區(qū)掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區(qū)形貌測(cè)試：

- 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
- 掃描振動(dòng)電極測(cè)試(SVET)
- 掃描開(kāi)爾文(Kelvin)探針測(cè)試(SKP)
- 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試(LEIS)
- 掃描電解液微滴測(cè)試(SDS)
- 非觸式微區(qū)形貌測(cè)試(OSP)

M370利用納米級(jí)分辨率的快速精確，閉環(huán)x,y,z定位系統(tǒng)，并連同一個(gè)便捷的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)使用戶依據(jù)自己的實(shí)驗(yàn)選擇配置。此系統(tǒng)設(shè)計(jì)靈活且人體工程學(xué)設(shè)計(jì)方便確保池體，樣品和探針的進(jìn)入。

1.掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)SECM370

SECM370是一款精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有極高空間分辨率，在溶液中可檢測(cè)電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測(cè)，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。

2.掃描卡爾文探針測(cè)試系統(tǒng)SKP370

掃描卡爾文探針系統(tǒng)SKP370，是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測(cè)量導(dǎo)電，涂膜，或半導(dǎo)體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級(jí)電壓測(cè)量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關(guān)。SKP的獨(dú)特性質(zhì)使在潮濕環(huán)境甚至是氣態(tài)環(huán)境中也可以測(cè)量，將不可能研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。

3.掃描振動(dòng)電極測(cè)試系統(tǒng)SVP370

SVP370(SVET)掃描振動(dòng)電極技術(shù)是一種非破壞性掃描，利用振動(dòng)探針，測(cè)量電化學(xué)化學(xué)樣品表面產(chǎn)生的電特性。確保用戶可以實(shí)時(shí)測(cè)定和定量局部電化學(xué)反應(yīng)以及腐蝕。

4.微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試系統(tǒng)LEIS370

微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合了電化學(xué)阻抗EIS技術(shù)和微區(qū)掃描技術(shù)，可以精確的測(cè)試局部微區(qū)的阻抗以及相應(yīng)參數(shù)。

應(yīng)用 * 薄膜阻抗復(fù)雜成像 * 池生長(zhǎng)介質(zhì)直接成像 * 光點(diǎn)化合反應(yīng)特征化 * 電池 * 傳感器 * 金屬以及合金的鈍化 * 燃料池 * 腐蝕

5.電解液微滴掃描系統(tǒng)SDS370

電解液微滴系統(tǒng)可以限定液體與樣品的接觸面，從而對(duì)于液滴與樣品直接接觸面內(nèi)的電化學(xué)和腐蝕反應(yīng)進(jìn)行測(cè)量。這樣就可以在空間分辨率上提供電化學(xué)活性，并使其限定在樣品特定量化表面。

應(yīng)用 * 表征表面氧化物 * 涂層研究 * ISFET特征化 * 點(diǎn)腐蝕 * 流速對(duì)局部腐蝕的影響

6.非觸式微區(qū)形貌測(cè)試系統(tǒng)OSP370

使用非接觸式激光位移傳感器，OSP370模塊可快速準(zhǔn)確地對(duì)非觸表面進(jìn)行高精度測(cè)量。在不接觸樣品表面的情況下，它可以在10mm的高度范圍內(nèi)提供小于1微米高度分辨率的3D表面特寫(xiě)影像。

配件
各種可選配件，包括各種可選探針，可選池體(Environmental TriCellTM,μTriCellTM,和Shallow μTriCellTM)，長(zhǎng)工作距離光學(xué)視頻顯微鏡(VCAM2)和3D表面陰影渲染軟件(3DlsoPlotTM)。能配置到一個(gè)特定的應(yīng)用程序并升級(jí)，使M370獨(dú)特靈活，同時(shí)保持頂端的性能。