M370掃描電化學(xué)工作站在掃描探針電化學(xué)領(lǐng)域中是一個全新的概念，以超高分辨率，非接觸式，空間分析電化學(xué)測量的特點而設(shè)計。

M370是一個模塊化的系統(tǒng)，可實現(xiàn)當(dāng)今所有微區(qū)掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區(qū)形貌測試：

- 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
- 掃描振動電極測試(SVET)
- 掃描開爾文(Kelvin)探針測試(SKP)
- 微區(qū)電化學(xué)阻抗測試(LEIS)
- 掃描電解液微滴測試(SDS)
- 非觸式微區(qū)形貌測試(OSP)

M370利用納米級分辨率的快速精確，閉環(huán)x,y,z定位系統(tǒng)，并連同一個便捷的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)使用戶依據(jù)自己的實驗選擇配置。此系統(tǒng)設(shè)計靈活且人體工程學(xué)設(shè)計方便確保池體，樣品和探針的進(jìn)入。

1.掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)SECM370

SECM370是一款精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有極高空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。

2.掃描卡爾文探針測試系統(tǒng)SKP370

掃描卡爾文探針系統(tǒng)SKP370，是一種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測量導(dǎo)電，涂膜，或半導(dǎo)體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個振動電容探針來工作的，通過調(diào)節(jié)一個外加的前級電壓測量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關(guān)。SKP的獨(dú)特性質(zhì)使在潮濕環(huán)境甚至是氣態(tài)環(huán)境中也可以測量，將不可能研究變?yōu)楝F(xiàn)實。

3.掃描振動電極測試系統(tǒng)SVP370

SVP370(SVET)掃描振動電極技術(shù)是一種非破壞性掃描，利用振動探針，測量電化學(xué)化學(xué)樣品表面產(chǎn)生的電特性。確保用戶可以實時測定和定量局部電化學(xué)反應(yīng)以及腐蝕。

4.微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)LEIS370

微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)結(jié)合了電化學(xué)阻抗EIS技術(shù)和微區(qū)掃描技術(shù)，可以精確的測試局部微區(qū)的阻抗以及相應(yīng)參數(shù)。

應(yīng)用 * 薄膜阻抗復(fù)雜成像 * 池生長介質(zhì)直接成像 * 光點化合反應(yīng)特征化 * 電池 * 傳感器 * 金屬以及合金的鈍化 * 燃料池 * 腐蝕

5.電解液微滴掃描系統(tǒng)SDS370

電解液微滴系統(tǒng)可以限定液體與樣品的接觸面，從而對于液滴與樣品直接接觸面內(nèi)的電化學(xué)和腐蝕反應(yīng)進(jìn)行測量。這樣就可以在空間分辨率上提供電化學(xué)活性，并使其限定在樣品特定量化表面。

應(yīng)用 * 表征表面氧化物 * 涂層研究 * ISFET特征化 * 點腐蝕 * 流速對局部腐蝕的影響

6.非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)OSP370

使用非接觸式激光位移傳感器，OSP370模塊可快速準(zhǔn)確地對非觸表面進(jìn)行高精度測量。在不接觸樣品表面的情況下，它可以在10mm的高度范圍內(nèi)提供小于1微米高度分辨率的3D表面特寫影像。

配件
各種可選配件，包括各種可選探針，可選池體(Environmental TriCellTM,μTriCellTM,和Shallow μTriCellTM)，長工作距離光學(xué)視頻顯微鏡(VCAM2)和3D表面陰影渲染軟件(3DlsoPlotTM)。能配置到一個特定的應(yīng)用程序并升級，使M370獨(dú)特靈活，同時保持頂端的性能。