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微區掃描電化學(xué)_百科

掃描電化學(xué)顯微系統(SECM)

交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(ac-SECM)

間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(ic-SECM)

微區電化學(xué)阻抗測試系統(LEIS)

掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測試系統(SVET)

電解液微滴掃描系統(SDS)

交流電解液微滴掃描系統(ac-SDS)

掃描開(kāi)爾文探針測試系統(SKP)

非觸式微區形貌測試系統(OSP)


Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站出色的性能:

1、快速精準的閉環(huán)定位系統為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設計。

2、結合Uniscan 獨特的混合型32-bit DAC技術(shù),用戶(hù)可以選擇合適實(shí)驗研究的最佳配置。

3、先進(jìn)和靈活的工作平臺。

4、系統可提供9種探針技術(shù),使得M470成為全球最靈活的電化學(xué)掃描灘鎮工作平臺。

5、全面的附件。

6、7種模塊可選,3種不同電解池,各式探針,長(cháng)距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。


Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站特征:

1、SECM自動(dòng)處理曲線(xiàn)

2、SECM用戶(hù)自定義處理曲線(xiàn)步長(cháng)變化

3、高分辨率讀取

5、手動(dòng)或自動(dòng)調節相位


Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站同時(shí)具備如下特點(diǎn):

1、傾斜校正.

2、X或Y曲線(xiàn)相減(5階多項式)。

3、2D或3D快速傅里葉變化。

4、實(shí)驗,探針移動(dòng)和區域繪圖的自動(dòng)排序。

5、圖形實(shí)驗測序引擎(GESE)。

6、支持多區域掃描。

7、所有實(shí)驗多個(gè)數據視圖。

8、峰值分析。


Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站是由Uniscan儀器開(kāi)發(fā)的第四代掃描探針系統,具有更高規格和更多探針技術(shù)。


Uniscan M470 微區掃描電化學(xué)工作站技術(shù)參數

工作站(所有技術(shù))

掃描范圍(x,y,z):大于100mm

掃描驅動(dòng)分辨率 最高0.1nm

閉環(huán)定位線(xiàn)性零滯后編碼器,直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移

軸分辨率(x,y,z)20nm

最大掃描速度12.5mm/s

測量分辨率 32-bit解碼器@高達40MHz


壓電(ic-和ac-掃描探針技術(shù))

振動(dòng)范圍20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量

最小振動(dòng)分辨率0.12nm(16-bit DAC,4μm)

壓電晶體伸展100μm

定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)


機電

掃描前端500×420×675mm(H×W×D)

掃描控制單元:275×450×400mm(H×W×D)

功率250W

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